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电子学 第91页
GB/T27700.1-2023有质量评定的声表面波滤波器第1部分:总规范
大小:614KB
简介:
GB/T 27700.1-2023有质量评定的声表面波滤波器 第1部分 :总规范最新版内容查询,英语名称Surface a...
GB/T4937.42-2023半导体器件机械和气候试验方法第42部分:温湿度贮存
大小:518KB
简介:
GB/T 4937.42-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存最新版内容查询,英语名称Semico...
GB/T42744-2023微波电路电调衰减器测试方法
大小:321KB
简介:
GB/T 42744-2023微波电路 电调衰减器测试方法最新版内容查询,英语名称Microwave circuit—Mea...
GB/T42895-2023微机电系统(MEMS)技术硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
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简介:
GB/T 42895-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法最新版内容查询,英语名称Micr...
GB/T8553-2023晶体盒总规范
大小:853KB
简介:
GB/T 8553-2023晶体盒总规范最新版内容查询,英语名称Generic specification for encl...
GB/T42897-2023微机电系统(MEMS)技术硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
大小:741KB
简介:
GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法最新版内容查询,英语名称Mi...
GB/T42837-2023微波半导体集成电路放大器
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简介:
GB/T 42837-2023微波半导体集成电路 放大器最新版内容查询,英语名称Microwave semiconducto...
GB/T22319.6-2023石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
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简介:
GB/T 22319.6-2023石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量最新版内容查询,英语名称M...
GB/T42896-2023微机电系统(MEMS)技术硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
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简介:
GB/T 42896-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法最新版内容查询,英语名称Micr...
GB/T42836-2023微波半导体集成电路混频器
大小:643KB
简介:
GB/T 42836-2023微波半导体集成电路 混频器最新版内容查询,英语名称Microwave semiconducto...
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