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电子学 第93页
GB/T20870.2-2023半导体器件第16-2部分:微波集成电路预分频器
大小:577KB
简介:
GB/T 20870.2-2023半导体器件 第16-2部分:微波集成电路 预分频器最新版内容查询,英语名称Semicond...
GB/T12274.401-2023有质量评定的石英晶体振荡器第4-1部分:空白详细规范能力批准
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简介:
GB/T 12274.401-2023有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准最新版内容查询,...
GB/T42968.8-2023集成电路电磁抗扰度测量第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法
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简介:
GB/T 42968.8-2023集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法最新版内容查询,英语名称I...
GB/T16515-2023电子设备用电位器第5部分:分规范单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器
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简介:
GB/T 16515-2023电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器最新版内容查询,英语名称P...
GB/T42709.19-2023半导体器件微电子机械器件第19部分:电子罗盘
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简介:
GB/T 42709.19-2023半导体器件 微电子机械器件 第19部分:电子罗盘最新版内容查询,英语名称Semicond...
GB/T42968.1-2023集成电路电磁抗扰度测量第1部分:通用条件和定义
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简介:
GB/T 42968.1-2023集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义最新版内容查询,英语名称Integrat...
GB/T4937.26-2023半导体器件机械和气候试验方法第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试人体模型(HBM)
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简介:
GB/T 4937.26-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HB...
GB/T42848-2023半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法
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简介:
GB/T 42848-2023半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法最新版内容查询,英语名称Semiconductor...
GB/T42969-2023元器件位移损伤试验方法
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简介:
GB/T 42969-2023元器件位移损伤试验方法最新版内容查询,英语名称Displacement damage test...
GB/T15651.6-2023半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管
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简介:
GB/T 15651.6-2023半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管最新版内容查询,英语名称Semicond...
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