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电子学 第69页
GB/T14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法
大小:458KB
简介:
GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法最新版内容查询,英语名称Semiconductor integ...
GB/T35010.1-2018半导体芯片产品第1部分:采购和使用要求
大小:339KB
简介:
GB/T 35010.1-2018半导体芯片产品 第1部分:采购和使用要求最新版内容查询,英语名称Semiconductor...
GB/T35007-2018半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
大小:600KB
简介:
GB/T 35007-2018半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法最新版内容查询,英语名称Semiconductor...
GB/T35011-2018微波电路压控振荡器测试方法
大小:304KB
简介:
GB/T 35011-2018微波电路 压控振荡器测试方法最新版内容查询,英语名称Microwave circuits—Me...
GB/T35008-2018串行NOR型快闪存储器接口规范
大小:380KB
简介:
GB/T 35008-2018串行NOR型快闪存储器接口规范最新版内容查询,英语名称Specification for se...
GB/T35010.7-2018半导体芯片产品第7部分:数据交换的XML格式
大小:839KB
简介:
GB/T 35010.7-2018半导体芯片产品 第7部分:数据交换的XML格式最新版内容查询,英语名称Semiconduc...
GB/T35010.8-2018半导体芯片产品第8部分:数据交换的EXPRESS格式
大小:582KB
简介:
GB/T 35010.8-2018半导体芯片产品 第8部分:数据交换的EXPRESS格式最新版内容查询,英语名称Semico...
GB/T35005-2018集成电路倒装焊试验方法
大小:737KB
简介:
GB/T 35005-2018集成电路倒装焊试验方法最新版内容查询,英语名称Test methods for flip ch...
GB/T35010.6-2018半导体芯片产品第6部分:热仿真要求
大小:901KB
简介:
GB/T 35010.6-2018半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求最新版内容查询,英语名称Semiconductor d...
GB/T35001-2018微波电路噪声源测试方法
大小:549KB
简介:
GB/T 35001-2018微波电路 噪声源测试方法最新版内容查询,英语名称Microwave circuits—Meas...
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