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国家标准
GB/T4937.19-2018半导体器件机械和气候试验方法第19部分:芯片剪切强度
大小:429KB
简介:
GB/T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分:芯片剪切强度最新版内容查询,英语名称Semic...
GB/T36356-2018功率半导体发光二极管芯片技术规范
大小:643KB
简介:
GB/T 36356-2018功率半导体发光二极管芯片技术规范最新版内容查询,英语名称Technical specifica...
GB/T36477-2018半导体集成电路快闪存储器测试方法
大小:356KB
简介:
GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法最新版内容查询,英语名称Semiconductor inte...
GB/T4937.18-2018半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐照(总剂量)
大小:472KB
简介:
GB/T 4937.18-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)最新版内容查询,英语名称Se...
GB/T21711.7-2018基础机电继电器第7部分:试验和测量程序
大小:402KB
简介:
GB/T 21711.7-2018基础机电继电器 第7部分:试验和测量程序最新版内容查询,英语名称Electromechan...
GB/T36476-2018印制电路用金属基覆铜箔层压板通用规范
大小:322KB
简介:
GB/T 36476-2018印制电路用金属基覆铜箔层压板通用规范最新版内容查询,英语名称General specifica...
GB/T4937.17-2018半导体器件机械和气候试验方法第17部分:中子辐照
大小:798KB
简介:
GB/T 4937.17-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照最新版内容查询,英语名称Semicon...
GB/T7247.13-2018激光产品的安全第13部分:激光产品的分类测量
大小:899KB
简介:
GB/T 7247.13-2018激光产品的安全 第13部分:激光产品的分类测量最新版内容查询,英语名称Safety of...
GB/T36474-2018半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3SDRAM)测试方法
大小:471KB
简介:
GB/T 36474-2018半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法最新版内...
GB/T4937.15-2018半导体器件机械和气候试验方法第15部分:通孔安装器件的耐焊接热
大小:471KB
简介:
GB/T 4937.15-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分:通孔安装器件的耐焊接热最新版内容查询,英语名称...
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