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电子学 第2页
GB/T45722-2025半导体器件恒流电迁移试验
大小:579KB
简介:
GB/T 45722-2025半导体器件 恒流电迁移试验最新版内容查询,英语名称Semiconductor devices—...
GB/T43590.507-2025激光显示器件第5-7部分:激光扫描显示在散斑影响下的图像质量测试方法
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简介:
GB/T 43590.507-2025激光显示器件 第5-7部分:激光扫描显示在散斑影响下的图像质量测试方法最新版内容查询,...
GB/T29847-2025印制板用铜箔测试方法
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简介:
GB/T 29847-2025印制板用铜箔测试方法最新版内容查询,英语名称Test methods for copper f...
GB/T45719-2025半导体器件金属氧化物半导体(MOS)晶体管的热载流子试验
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简介:
GB/T 45719-2025半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验最新版内容查询,英语名称Semic...
GB/T45638-2025使用条形码和二维符号的电子元器件产品包装标签
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简介:
GB/T 45638-2025使用条形码和二维符号的电子元器件产品包装标签最新版内容查询,英语名称Product packa...
GB/T31379.1-2025平板显示器偏光片测试方法第1部分:理化性能
大小:791KB
简介:
GB/T 31379.1-2025平板显示器偏光片测试方法 第1部分:理化性能最新版内容查询,英语名称Test method...
GB/T45718-2025半导体器件内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验
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简介:
GB/T 45718-2025半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验最新版内容查询,英语名称Semico...
GB/T19405.3-2025表面安装技术第3部分:通孔回流焊用元器件规范的标准方法
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简介:
GB/T 19405.3-2025表面安装技术 第3部分:通孔回流焊用元器件规范的标准方法最新版内容查询,英语名称Surfa...
GB/T22452-2025硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范
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简介:
GB/T 22452-2025硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范最新版内容查询,英语名称General specificati...
GB/T45721.1-2025半导体器件应力迁移试验第1部分:铜应力迁移试验
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简介:
GB/T 45721.1-2025半导体器件 应力迁移试验 第1部分:铜应力迁移试验最新版内容查询,英语名称Semicond...
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