标准介绍
GB/T 4937.4-2012半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）最新版内容查询，英语名称Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)，发布日期：2012-11-05，实施日期：2013-02-15，GB/T4937.4-2012半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）国家标准最新版免费下载
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