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GB/T45723-2025印制电路板测试方法温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化

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GB/T 45723-2025印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化最新版内容查询,英语名称Test method for printed board—Monitoring of single plated-through hole(PTH) resistance change during temperature cycling,发布日期:2025-05-30,实施日期:2025-12-01,GB/T45723-2025印制电路板测试方法温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化国家标准最新版免费下载

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