GB/T45720-2025半导体器件栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验 分类：国家标准 大小：480KB 热度：10 点评：0 发布：2025-07-31 13:17:21 支持： 关键词： 电子学 在线阅览 标准下载 标准介绍 GB/T 45720-2025半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验最新版内容查询，英语名称Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films，发布日期：2025-05-30，实施日期：2025-09-01，GB/T45720-2025半导体器件栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验国家标准最新版免费下载 上一篇：GB/T7247.3-2025激光产品的安全第3部分：激光显示与表演指南 下一篇：GB/T18462-2025激光加工机械金属切割的性能规范 相关标准 GB/T45464-2025道路用苯乙烯-丁二烯-苯乙烯嵌段共聚物（SBS）改性沥青改性剂含量检测方法 GB/T45605-2025城市道路交通闪烁光信号技术要求 GB/T45931-2025公路用建筑垃圾再生集料及无机混合料 GB/T27879-2025公路收费用费额显示器 GB/T24719-2025公路收费亭 GB/T20149-2006道路交通信号灯200mm圆形信号灯的光度特性 GB/T21382-2008光致发光（磷光）安全标记光学性能要求 GB/T24723-2009公路收费用票据打印机 GB/T21380-2008行人反光标识夜间光度性能及测试方法 GB/T24720-2009交通锥 最新评论 我要评论 内容： 昵称： 邮箱： 网址： 取消回复
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