GB/T43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

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发布：2025-08-09 23:35:48

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航空器和航天器工程

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GB/T 43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法最新版内容查询，英语名称Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit，发布日期：2023-09-07，实施日期：2024-01-01，GB/T43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法国家标准最新版免费下载

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