标准介绍
GB/T 41805-2022光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法最新版内容查询，英语名称Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging，发布日期：2022-10-14，实施日期：2023-05-01，GB/T41805-2022光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法国家标准最新版免费下载
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