GB/T40279-2021硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法

分类：国家标准 大小：858KB 热度：85 点评：0

发布：2025-08-04 23:22:02

支持：

关键词：

冶金

在线阅览
标准下载

标准介绍

福利：制造、汽车行业英语培训视频免费下载！

GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法最新版内容查询，英语名称Test method for thickness of films on silicon wafer surface—Optical reflection method，发布日期：2021-08-20，实施日期：2022-03-01，GB/T40279-2021硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法国家标准最新版免费下载

上一篇：GB/T7731.5-2021钨铁硅含量的测定硅钼蓝分光光度法

下一篇：GB/T40281-2021钢中非金属夹杂物含量的测定极值分析法