GB/T32189-2015氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法

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发布：2025-08-04 23:27:48

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GB/T 32189-2015氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法最新版内容查询，英语名称Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope，发布日期：2015-12-10，实施日期：2016-11-01，GB/T32189-2015氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法国家标准最新版免费下载

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