GB/T31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法

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发布：2025-08-14 23:00:57

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计量学和测量_物理现象

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GB/T 31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法最新版内容查询，英语名称Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films，发布日期：2014-09-30，实施日期：2015-04-15，GB/T31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法国家标准最新版免费下载

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