标准介绍
GB/T 27760-2011利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法最新版内容查询，英语名称Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps，发布日期：2011-12-30，实施日期：2012-05-01，GB/T27760-2011利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法国家标准最新版免费下载
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