标准介绍
GB/T 24576-2009高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法最新版内容查询，英语名称Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction，发布日期：2009-10-30，实施日期：2010-06-01，GB/T24576-2009高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法国家标准最新版免费下载
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