GB/T1553-2023硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法

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发布：2025-08-04 23:20:20

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GB/T 1553-2023硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法最新版内容查询，英语名称Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method，发布日期：2023-08-06，实施日期：2024-03-01，GB/T1553-2023硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法国家标准最新版免费下载

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