标准介绍
GB/T 13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法最新版内容查询，英语名称Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques，发布日期：2009-10-30，实施日期：2010-06-01，GB/T13388-2009硅片参考面结晶学取向X射线测试方法国家标准最新版免费下载
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