标准介绍
GB/T 36053-2018X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告最新版内容查询,英语名称Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry—Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting,发布日期:2018-03-15,实施日期:2019-02-01,GB/T36053-2018X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告国家标准最新版免费下载
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