标准介绍
GB/T 32188-2015氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法最新版内容查询，英语名称The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate，发布日期：2015-12-10，实施日期：2016-11-01，GB/T32188-2015氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法国家标准最新版免费下载
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