标准介绍
GB/T 26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法最新版内容查询，英语名称Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method，发布日期：2018-12-28，实施日期：2019-11-01，GB/T26068-2018硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法国家标准最新版免费下载
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